W dniach 5 - 7 czerwca 2024 r. w Gliwicach na Wydziale Elektrycznym Politechniki Śląskiej odbyła się XVI konferencja naukowo-techniczna Podstawowe Problemy Metrologii 2024.
Przewodniczącym Komitetu Organizacyjnego PPM’24 jest Prof. Marian Kampik, Kierownik Katedry Metrologii, Elektroniki i Automatyki Politechniki Śląskiej, w gronie członków Komitetu Naukowego tej konferencji są Mykhaylo Dorozhovets i Anna Szlachta.
W tej edycji PPM czynnie uczestniczyli pracownicy KMiSD: Mykhaylo Dorozhovets, Anna Szlachta oraz Piotr Kubiszyn.
Prof. Mykhaylo Dorozhovets podczas pierwszej sesji zaprezentował pracę nt.: „Paradoks” oceny niepewności jednoczesnego pomiaru dwoma miernikami. Ciekawostką, paradoksem jest fakt, że niepewność pomiaru dwoma miernikami wychodzi mniejsza dla większych błędów dopuszczalnych.
W kolejnym dniu wyniki badań nt.: Zastosowania kamer w procesach pomiarowych zaprezentowała Anna Szlachta.
Na zakończenie konferencji fragment badań nt.: Przetwornik napięcie/czas z układem próbkująco-pamiętającym, z tematyki realizowanej pracy doktorskiej przedstawił Piotr Kubiszyn.
Oprócz sesji plenarnych i plakatowych organizatorzy przewidzieli czas na rozmowy nie tylko naukowe podczas rejsu po Kanale Gliwickim. Kolejna konferencja PPM odbędzie się za rok.
